Ultrasonic cavitation at liquid/solid interface in a thin Ga–In liquid layer with free surface
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摘要
本研究基于高速摄影、数值模拟和气泡动力学，系统分析了超声空化在薄层Ga–In液体金属中的空化气泡特性及声压分布。发现声压在液层内呈周期性交替变化，空化气泡在负压阶段迅速成核膨胀并在正压阶段收缩破裂；气泡生长速度高达16.8 m/s，最大压力集中于液层底部。空化过程分为剧烈与弱空化阶段，剧烈阶段中空化云大且寿命较长，且超声功率和基底材料弹性模量显著影响空化强度和声压大小，结果有助于提升超声提取和焊接技术效率[page::0][page::1][page::4][page::5][page::10]。
